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東京エレデバイス、設備異常の理由可視化 判別モデル生成に新機能 (2019/12/17 電機・電子部品・情報・通信2)

【横浜】東京エレクトロンデバイスは、生産設備の異常判別の基準となる判別モデルの自動生成システム「CX―M」に、判別理由を可視化して原因を分析できるモデルの生成機能を設けた。... 従来のCX―Mは複数...

【横浜】東京エレクトロンデバイスは、生産設備などの異常判別の基準となる判別モデルを自動生成するシステム「CX―M」に、複数の状態判別ができるモデルを生成する機能を追加した。... 機能を追加した新バー...

判別対象の製品の良品・不良品画像を用意してシステムに取り込むと、自動で同モデルを生成できる。... 東京エレクトロンデバイスが開発したシステムは、判別対象の製品の良品・不良品画像を判別モデル生成ツール...

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