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記事検索結果
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ネオジム磁石を集束イオンビーム(FIB)で削りながら走査型電子顕微鏡(SEM)で撮像し、詳細な3次元(3D)モデルを作製した。
マイクロスコープや電子顕微鏡(SEM)などを用いており、分析結果の報告だけでなく、ほかに伝えられる情報がないか常に意識しています。
併せて、研究者のニーズが高い卓上走査電子顕微鏡(SEM)をはじめとする高価な研究機器や備品を時間単位で貸し出すサービスも開始。
低ダメージ・高分解能な走査型電子顕微鏡(SEM)観察を可能にするリターディング機能もオプションで選べる。
日立ハイテクはコンダクターエッチング装置で約7%と世界シェア4位級、計測装置の測長走査型電子顕微鏡(SEM)では約70%と同首位を占める(いずれも推定)...
【研究開発助成/奨励研究助成 若手研究者(塑性加工)】▽大島草太/東京都立大学システムデザイン学部「機械学習を用いた3D積層造形ポーラス金属の変形挙動予測」...
3次元(3D)鋳物モデルの作成、走査型電子顕微鏡(SEM)の操作方法のほか、現地鋳造企業での実務体験など鋳物製造に必要な要素を幅広く学習できる。
日本企業がほぼ独占している例を挙げると、半導体ウエハーに感光剤を塗って現像するコータ・デベロッパは東京エレクトロン(TEL)が世界の90%、走査型電子顕微鏡(SEM...
日立ハイテクは走査型電子顕微鏡(SEM)を応用して半導体回路の長さや幅、配線をつなぐ穴の直径などを測る「測長SEM(CD―SEM)」を1984年に製品化して以来、長さを...
このほど1億円を投資し、試料移動型冷熱衝撃試験装置や大型対応の走査型電子顕微鏡(SEM)を導入した。... また大型対応のSEMの導入で、切断加工せずに非破壊で大型の対象部品を観察でき...
透過型電子顕微鏡(TEM)や走査型電子顕微鏡(SEM)など各キャンパスのセンター施設にしかない設備もあり、技術担当者や教員の移動が課題だった。
TRCの高分解能組成分析装置「NanoSIMS」と、微小部分の形態観察が可能な電子顕微鏡「SEM」を組み合わせた技術で実現できた。
一般的なLER計測では、高スループットの利点をもつ走査電子顕微鏡(SEM)が使われるが、SEM像に含まれるノイズなどが原因で計測の精度に課題がある。 ... また、S...
新拠点にはシリコンウエハー上の不要な部分を削り取るエッチング装置をはじめ、回路線幅が設計通りかを測る測長SEMなどを設置。
集束イオンビーム(FIB)、走査電子顕微鏡(SEM)、エックス線CT(コンピューター断層撮影法)などの分析用装置による3次元画像から、多孔質材料の画像解...
同社の主力製品の一つである回路線幅の測定装置「測長SEM」と比べて、100倍の広領域スキャンによる高精度な撮像を実現した。
汎用透過電子顕微鏡(TEM)のみならず、電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)や走査電子顕微鏡(SEM)にも搭載できる。
研究グループは大気の第3成分であるアルゴンの存在を確かめるため、走査型電子顕微鏡(SEM)などを用いた新しい検出手法を開発。