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走査電子顕微鏡(SEM)の実環境試験で確認した。

集束イオンビーム加工装置(FIB)と、走査電子顕微鏡(SEM)を組み合わせた装置。... 同装置は微細な材料を観察しやすいようにFIBで加工し、SEMで観察するのに使う...

新しい電気特性測定装置であるナノプローバーは走査電子顕微鏡(SEM)観察下でのプローブ技術としてスタートしたが、半導体デバイスの微細化に伴いSPMの一種である原子間力顕微鏡(A...

走査電子顕微鏡(SEM)操作用と描画用のパソコンを一体化し、省スペース化した。

FIB(集束イオンビーム加工装置)と、SEM(走査電子顕微鏡)を組み合わせたもの。... 日立ハイテクのSEM技術と、2013年1月にグループ会社化した日立ハイテクサイ...

走査電子顕微鏡(SEM)画像、3次元測定画像の2画像を同時に1画面に表示し、操作性を向上した。

表面の光沢や粗さ、透過率のほか、走査型電子顕微鏡(SEM)による検査なども行った。

産総研の同チームは細孔径分布曲線や、走査型電子顕微鏡(SEM)を使った膜断面像などの評価で同研究を支援する。

デモルームには走査型電子顕微鏡(SEM)と走査透過型電子顕微鏡(STEM)を備え、自社製品で高精度位置決めを行うナノマニピュレーションステージ、局所で無残さ加工が可能な...

新規に導入するのは日本電子の原子分解能分析電子顕微鏡と、日立ハイテクノロジーズの電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)。... 電界放出形SEMはサンプルを冷却して構造を観察できる。

「SEMグローブ=写真は同社提供」で、脳卒中で半身まひになった患者などの指の動きを手助けする。

工場1階スペースの一部を改装し走査型電子顕微鏡(SEM)、高周波誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP)などを設置した。

TRINC(浜松市西区、053・482・3411)物質に帯電した静電気をプラスマイナス30キロボルトまで測定できる機器「静電位テスターTAS―271SEM=写真」を1日に発売し...

そういう意味で、10万倍程度拡大するには、Fe―SEM(電界放射型走査型電子顕微鏡)もしくはTEM(透過型電子顕微鏡)といった装置での観察が不可欠であった。 &...

走査型電子顕微鏡(SEM)やレーザー脱離イオン化質量分析装置(MALDI―MS)、X線光電子分光装置(ESCA)などを使った講義と実習を行う。 ...

▽鷹取製作所(福岡県うきは市)=木型・金型を用いない高精度砂型鋳造法による、船舶用銅合金大型鋳物製品の低コスト・短納期・無欠陥を目指した生産技術の開発▽テック・コンシェルジェ熊...

試料に上方から電子線を照射して反射する電子線を読み取る「走査型電子顕微鏡」(SEM)を応用した。

日立ハイテクノロジーズは、走査電子顕微鏡(SEM)で絶縁物試料を観察する際の前処理に使うイオン液体を発売した。... 自社のSEMとセットでの利用を提案し、年120本の販売を見込む。&...

日立ハイテクノロジーズは、電界放出形走査電子顕微鏡(FE―SEM)の新シリーズ「SU8200=写真」を20日に発売する。

生物試料などの表面構造を観察する走査型電子顕微鏡(SEM)では、試料に電子線を照射して上方に反射する電子線を読み取る。

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