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テラダイン、27日に半導体検査セミナー （2018/2/16 電機・電子部品・情報・通信１）
テラダイン(横浜市西区)は27日10時半からヨコハマグランドインターコンチネンタルホテル(同区)で「デバイステスト最新技術セミナー」を開く。
キーサイト・テクノ、光通信デバイステスト用レーザー光源投入 （2015/4/8）
キーサイト・テクノロジー(東京都八王子市、梅島正明社長、042・660・3000)は、光ファイバー通信用デバイスの性能測定に使う波長可変レーザー光源「81606A=写真」を発売...
ジェイシーエム、デバイステスト評価用温調ソケットを完成 （2010/1/8）
【新潟】ジェイシーエム(新潟県胎内市、中山立行社長、0254・44・2300)は、自己発熱デバイスの測定温度を安定させてテスト評価できる「温調ソケット=写真」を完成した。......
微細化の先に(4)NEC中央研究所支配人・住広直孝氏 （2008/6/10）
この研究開発はソフトウエア、システム、デバイスなど中央研究所の3グループを横断することがコンセプト。... 「要素技術はLSIの回路、設計環境、材料、デバイス、テスト環境などすべての階層にまたがる。....
