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東大生研、「駒場分析コア」設立装置共同利用本格化（2021/12/16 大学・産学連携）

東京大学生産技術研究所は大型分析装置を駒場地区で共同利用する「駒場分析コア」の設立記念式典を開いた。日本電子の質量分析装置など最新の4装置を導入。... 式典では導入した集束イオンビーム加工...

デンケン、半導体・車載関連に攻勢関東と中部でイオンビーム加工（2017/3/21 モノづくり基盤・成長企業）

集束イオンビーム加工装置(FIB)を導入。集積回路を開発するファブレスメーカー向けに回路修正や解析用LSI配線加工などを行う。... 九州では同社杵築工場(大分県杵築市)...

日本電子、微細試料向け複合ビーム加工観察装置（2017/1/17 機械・ロボット・航空機２）

【立川】日本電子は1キロボルトの低加速電圧で分解能1・6ナノメートル(ナノは10億分の1)を実現した複合ビーム加工観察装置を発売した。... 「JIB―4700F=写真」は、集...

今回の研究で回収されたシリカの一部を集束イオンビーム加工装置を使って切り出し、大型放射光施設「スプリング8」のX線を照射、構造解析してスティショバイトを発見した。

日立ハイテク、FIB・SEM複合装置の新製品に直交型設計を採用（2015/7/2）

日立ハイテクノロジーズは、3次元(3D)構造解析に用いる集束イオンビーム加工装置(FIB)・走査電子顕微鏡(SEM)複合装置で、精度を高めた新製品を開発...

日本電子は薄膜材料や有機材料の形態観察や元素分析、結晶解析が1台で行える複合ビーム加工観察装置「JIB―4610F=写真」を24日に発売する。集束イオンビーム加工装置(FIB)...

日立ハイテクノロジーズは高品位な透過電子顕微鏡(TEM)用試料を作製できる複合装置「NX2000=写真」を発売した。FIB(集束イオンビーム加工装置)と、SEM...