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ポータブルシステム提案、インフラ診断の新技術 陽電子の寿命測定法は原子空孔や分子間空隙を検出できることから、材料の研究で金属の欠陥や半導体の電気特性、高分子の劣化やバリア特性などの評...

【発光を可視化】 CL法では電子顕微鏡を使い、半導体から得られる発光をサブミクロン(1万分の1ミリメートル)の分解能で可視化して欠陥を評価する。... 欠陥は、それ自...

(月曜日に掲載) 産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門極微欠陥評価研究グループ長 鈴木良一氏 電子加速器技術を利用した高エネ...

原子サイズ程度の微小な欠陥を世界最速の1画素あたり約2秒でイメージングする。... 極微欠陥評価グループの鈴木良一グループ長、大島永康研究員らが開発した。... そのため寿命を測れば物質中の欠陥やすき...

半導体の配線変更や欠陥評価、金属材料の観察などでの利用を見込む。

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