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リガク、異方性材料に対応の小角X線散乱測定装置 （2016/2/19 機械・航空機２）
X線検出器には高性能2次元半導体検出器を標準搭載し、異方性のある材料からの回折や散乱情報も余さず測定できる。試料と検出器の距離を容易に変更できる。
リガク、X線回折装置発売−調整状態・測定条件を全自動化 （2014/6/16）
光学系調整状態の確認、測定条件の設定・実行を全自動化したほか、検出器に高速1次元半導体検出器を標準装備した。... 高速な1次元半導体検出器を搭載したほか、オプションで受光面積400平方ミリメートルの...
リガク、2次元半導体検出器を開発−検出面積10%拡大 （2014/4/3）
【立川】リガク(東京都昭島市、志村晶社長、042・545・8111)は、同社製のX線回折装置に搭載する次世代2次元半導体検出器「HyPix(ハイピックス)3000...
