電子版有料会員の方はより詳細な条件で検索機能をお使いいただけます。

144件中、1ページ目 1〜20件を表示しています。 (検索にかかった時間:0.004秒)

機能化学、半導体回復に備え (2024/5/6 素材・建設・環境・エネルギー)

菊陽町の生産拠点では、1月にも半導体ウエハー用研磨剤(CMPスラリー)の生産設備を本格稼働した。... 同材料はウエハー上のレジストに回路パターンをハンコのように押し当てて転写・形成す...

半導体の品質管理にはウエハー上のチリ、ホコリから始まり、原子レベルの欠陥検出など、あらゆる実用技術が投入されてきた。

納入したのは、クリーンルーム内でウエハー上にハンダバンプを形成させる浮遊加熱式トレーレスの専用窒素リフロー装置。回路形成後のウエハーに微細なハンダボールを敷き詰めて装置に投入。... 大和製作所は熱風...

復権 半導体/KOKUSAI ELECTRIC社長・金井史幸氏 DRAM向け装置... (2023/12/25 電機・電子部品・情報・通信)

数十枚のウエハー上に薄い膜をつくる「バッチ式」の成膜装置や、成膜後に膜中の不純物を取り除き膜質を改善させるトリートメント装置で世界トップレベルのシェアを占める。... 直径200ミリメートルまでの炭化...

ニュース拡大鏡/TOPPAN・大日印、フォトマスク微細化加速 (2023/12/13 電機・電子部品・情報・通信1)

EUV露光装置は回路線幅7ナノメートル以降の回路の微細なパターンをウエハー上に転写露光する技術として先端半導体製造に不可欠となる。

7ナノメートル(ナノは10億分の1)以降の回路の微細なパターンをウエハー上に転写露光する技術として、先端半導体製造に不可欠となる。

キヤノン、「ナノインプリント」実用化 半導体露光装置を発売 (2023/10/16 電機・電子部品・情報・通信)

電気料金が高い国・地域で導入しやすい上、二酸化炭素(CO2)の排出削減を求める半導体メーカーの需要にも応えられる。... FPA―1200NZ2Cは3次元(3D)の回路...

ウエハー上の積載数や製造数が増え、コスト競争力につながる。

半導体チップをウエハー上に仮接合して垂直配線を形成後に小さな力で剝離できる。... ウエハー上にシリカ薄膜を低温で形成して剝離層として利用する。... 剝離層を形成してからチップを切り出し、表面を洗浄...

企業研究/ディスコ(4)脱炭素・自動化ニーズ追い風 (2023/5/26 電機・電子部品・情報・通信)

「効率化や歩留まり改善に寄与する装置に比べ、ウエハー上の構造の形成に寄与する装置の方が成長率がより高くなる」。野村証券アナリストの吉岡篤は今後の半導体装置市場をこう予測し、具体例の一つにウエハーを削り...

AGCがEUV露光用部材増産 福島に新ライン、生産能力30%増 (2023/4/28 素材・建設・環境・エネルギー)

表面に半導体チップの回路原版を形成し、その回路をシリコンウエハ上に転写することで半導体チップを形成する。

ウエハー上の必要な場所にだけ非常に薄く成膜する材料で、現在の露光・現像と異なる次世代の回路形成技術に使われる可能性がある。

リケジョneo(207)ADEKA・岡田奈奈さん (2022/12/5 ひと カイシャ 交差点)

ただ、開発品が採用されるには、ウエハー上に成膜する際の評価を付加価値として提案することが求められます。

化学各社、半導体材料に陰り 通期見通し下方修正相次ぐ (2022/11/24 素材・医療・ヘルスケア2)

一方、シリコンウエハーやウエハー上に回路形成する「前工程」用材料を手がける企業は先端半導体向けを中心に足元は堅調だ。

【京都】SCREENセミコンダクターソリューションズ(京都市上京区、後藤正人社長)は、高生産性と高解像度を両立したパターン付きウエハー外観検査装置「ZI―3600&...

半導体製造プロセスでは半導体ウエハー上に微細パターンを作り込むが、微細化の進展に加えてEUVリソグラフィー特有の課題も生じており、要求される加工精度の達成は容易ではない。設計上は直線で加工されたライン...

ナノインプリントは3次元(3D)の回路パターンを形成した原版(マスク)をウエハー上にある感光材の液体樹脂に押しつけながら光を当て、ハンコを押すように回路を転写する。&#...

酸化ガリウム単結晶基板の製造・加工用設備、検査設備のほか、ウエハー上に酸化ガリウムをエピタキシャル成長させる成膜装置を追加導入する。22年度中に複数枚のウエハーを同時に成膜できる新たな装置を開発予定で...

ミネベアミツミは千歳事業所(北海道千歳市)のIGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)の生産能力を口径150ミリメートル(6インチ)ウエハー換算で従来...

非破壊でウエハー上の欠陥分布が分かるため、出荷検査などに利用できる。 パワーデバイスの製造ではSiCウエハー上にさらにSiCを結晶成長させてデバイスに用いる。もとのウエハーの欠陥がデ...

ご存知ですか?記事のご利用について

カレンダーから探す

閲覧ランキング
  • 今日
  • 今週

ソーシャルメディア

電子版からのお知らせ

日刊工業新聞社トピックス

セミナースケジュール

イベントスケジュール

もっと見る

おすすめの本・雑誌・DVD

ニュースイッチ

企業リリース Powered by PR TIMES

専門誌・海外ニュースヘッドライン

専門誌

↓もっと見る

海外ニュース

↓もっと見る

大規模自然災害時の臨時ID発行はこちら

日刊工業新聞社関連サイト・サービス

マイクリップ機能は会員限定サービスです。

有料購読会員は最大300件の記事を保存することができます。

ログイン