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[ エレクトロニクス ]

安永、3D光学式外観検査装置 セラミック基板用

(2017/9/14 05:00)

【津】安永は、次世代パワー半導体などに用いられるセラミック基板を高速・高精度に検査できる3次元(3D)光学式外観検査装置「FV203CR=写真」を発売した。価格...

(残り:268文字/本文:348文字)

(2017/9/14 05:00)

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